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SpeckleNN: Eine einheitliche Einbettung für die Echtzeit-Klassifizierung von Speckelmustern in der Röntgen-Einzelpartikelbildgebung mit begrenzten markierten Beispielen

By Cong Wang and others
Mit Röntgen-Freie-Elektronen-Lasern (XFEL) ist es möglich, die dreidimensionale Struktur nichtkristalliner nanoskaliger Partikel mithilfe von Röntgen-Einzelpartikelbildgebungsverfahren (SPI) bei Raumtemperatur zu bestimmen. Die Klassifizierung von SPI-Streumustern oder "Speckles", um einzelne Treffer zu extrahieren, die für Echtzeit-Veto und dreidimensionale Rekonstruktion benötigt werden, stellt eine Herausforderung für Einrichtungen mit hoher Datenrate wie European XFEL... Show more
February 14, 2023
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SpeckleNN: A unified embedding for real-time speckle pattern classification in X-ray single-particle imaging with limited labeled examples
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